Infrareda pêlên kurt (SWIR) lensek optîkî ya bi taybetî endezyarkirî pêk tîne ku ji bo girtina ronahiya infrasor a pêla kurt a ku rasterast ji hêla çavê mirov ve nayê fam kirin, hatî çêkirin. Ev band bi gelemperî wekî ronahiyê bi dirêjahiya pêlên ku ji 0,9 heta 1,7 mîkroyan vedigire tê destnîşan kirin. Prensîba xebitandinê ya lensên infrasor-pêla kurt li ser taybetmendiyên veguheztina materyalê ji bo dirêjahiya pêlek taybetî ya ronahiyê ve girêdayî ye, û bi arîkariya materyalên optîkî yên pispor û teknolojiya xêzkirinê, lens dikare ronahiya infrasor a pêla kurt bi pisporî bimeşîne dema ku xuyangê tepeser bike. ronahî û dirêjahiya pêlên nexwestî yên din.
Taybetmendiyên wê yên sereke ev in:
1. Veguheztina bilind û hilbijartî ya spektral:Lensên SWIR materyalên optîkî yên pispor û teknolojiya xêzkirinê bi kar tînin da ku bigihîjin veguheztina bilind di nav band pêla infrasor a kurt (0,9 ber 1,7 mîkron) û xwedan hilbijartiyek spektral in, hêsankirina nasîn û rêvekirina dirêjahiya pêlên taybetî yên ronahiya infrasor û astengkirina dirêjahiya pêlên din ên ronahiyê. .
2. Berxwedana korozyona kîmyewî û aramiya termal:Materyal û pêlava lensê îstîqrara kîmyewî û germî ya berbiçav nîşan dide û dikare performansa optîkî di bin guheztinên germahiyê yên giran û rewşên cihêreng ên hawîrdorê de bidomîne.
3. Çareserkirina bilind û xerabûna kêm:Lensên SWIR bi vebijarka bilind, guheztina kêm, û taybetmendiyên optîkî yên bersivdana bilez diyar dikin, ku hewcedariyên wênekêşiya pênase bilind pêk tînin.
Lensên infrared ên pêla kurt bi berfirehî di qada çavdêriya pîşesaziyê de têne bikar anîn. Mînakî, di pêvajoya çêkirina nîvconductor de, lensên SWIR dikarin xeletiyên di hundurê waferên silicon de ku ji bo tespîtkirina di bin ronahiya xuya de dijwar in, tespît bikin. Teknolojiya wênekêşiya infrared a pêla kurt dikare rastbûn û karbidestiya vekolîna waferê zêde bike, bi vî rengî lêçûnên hilberînê kêm bike û kalîteya hilberê zêde bike.
Lensên infrared pêla kurt di vekolîna wafera nîvconductor de rolek girîng dileyzin. Ji ber ku ronahiya infrasor a pêlên kurt dikare bi siliconê biherike, ev taybetmendî hêz dide lensên infrasor ên pêlên kurt da ku kêmasiyên di nav waferên silicon de tespît bikin. Mînakî, wafer dibe ku ji ber stresa mayî di pêvajoya hilberînê de şikestî hebin, û ev şikestin, ger nehatin tespît kirin, dê rasterast bandorê li hilber û lêçûnên hilberîna çîpa IC ya dawîn bikin. Bi karanîna lensên infrared-pêla kurt, kêmasiyên weha dikarin bi bandor werin fêhm kirin, bi vî rengî berbi hilberînê û kalîteya hilberê pêşve bibin.
Di sepanên pratîkî de, lensên infrasor ên pêlên kurt dikarin wêneyên berevajî bilind peyda bikin, ku kêmasiyên hûrdemî jî bi eşkere xuya bikin. Serîlêdana vê teknolojiya tespîtê ne tenê rastbûna tespîtê zêde dike lê di heman demê de lêçûn û dema tespîtkirina destan jî kêm dike. Li gorî rapora lêkolîna bazarê, daxwaziya ji bo lensên infrasor ên pêla kurt di sûka tespîtkirina nîvconductor sal bi sal zêde dibe û tê pêşbînîkirin ku di çend salên pêş de rêgezek mezinbûnê ya domdar biparêze.
Dema şandinê: Nov-18-2024